MiniTest 735涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

德國EPK涂層測(cè)厚儀

適用于MiniTest 735涂層測(cè)厚儀的SIDP®探頭：

SIDSP®是涂層厚度傳感器技術(shù)。借助這項(xiàng)新技術(shù)，為創(chuàng)新的涂層厚度丈量樹立了另一個(gè)新的基準(zhǔn)。 SIDSP®代表傳感器集成的數(shù)字信號(hào)處置–一種在丈量的時(shí)間和點(diǎn)將信號(hào)在傳感器內(nèi)部處置成數(shù)字方式的技術(shù)。 SIDSP®傳感器是根據(jù)全新重消費(fèi)技術(shù)制造的。與傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器為傳感器內(nèi)部的傳感器頭創(chuàng)建和控制鼓舞信號(hào)。返回信號(hào)直接中止數(shù)字轉(zhuǎn)換并以32位精度中止處置，以提供完好的涂層厚度值。關(guān)于這種技術(shù)，運(yùn)用了現(xiàn)代電信技術(shù)（網(wǎng)絡(luò)）中已知的高度復(fù)雜的數(shù)字信號(hào)處置方法，例如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均，隨機(jī)分析等。這運(yùn)用戶可以完成信號(hào)質(zhì)量和迄今為止，精度是模擬信號(hào)處置所*的。厚度值經(jīng)過傳感器電纜數(shù)字傳輸?shù)斤@現(xiàn)單元。在涂層厚度丈量方面樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)，與常用的模擬傳感器相比，該技術(shù)具有決議性的優(yōu)勢(shì)和改進(jìn)。